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美国德克萨斯大学赵东高博士和威斯康辛大学John H. Fournelle博士到资源所进行学术访问

发布时间:2015-12-14

应中国地质科学院矿产资源研究所陈振宇博士的邀请,美国德克萨斯大学赵东高博士和威斯康辛大学John H. Fournelle博士于2015年12月8日上午到资源所进行学术交流访问。赵东高博士做了题为“From Micro to Nano: Applications of Electron Microbeam Techniques in the Geosciences”(从微米到纳米:微束分析技术在地质科学中的应用)的报告,较为系统地介绍了扫描电镜、电子探针透射电镜等微束分析技术的基本原理及其在地质科学研究中的应用;John H. Fournelle博士作了题为“EPMA in 21st century: Advances and challenges”(二十一世纪的电子探针:发展和挑战)的报告,介绍了新世纪以来电子探针仪器和分析技术的新发展及其在地质科学应用中面临的新挑战。除了资源所的研究人员外,还有来自中科院地质地球物理研究所、中科院青藏高原研究所、核工业地质所、地科院地质所的同行和研究生30余人参加了报告会,报告引起与会同行的很大兴趣,并就相关问题进行了提问和讨论。
    赵东高博士1983年本科毕业于南京大学地质系,1983-1991年在地科院工作,期间在资源所(矿产地质研究所)获硕士学位,后留学加拿大、美国,1998年获美国密歇根大学(University of Michigan)博士学位。一直从事电子探针、扫描电镜、透射电镜的技术应用研究和实验室管理。现为美国德克萨斯大学(奥斯汀)(The University of Texas at Austin)地球科学系高级研究员,微束分析实验室主任。
    Dr. John H. Fournelle 于1989年获美国约翰霍普金斯大学(The Johns Hopkins University)地质系博士学位,一直从事电子探针、扫描电镜等微束分析技术研究和应用工作。现为美国威斯康辛大学(University of Wisconsin-Madison)地质与地球物理系高级研究员,微束分析实验室主任。
(陈振宇 供稿)


 

 

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